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測試測量

半導體產(chǎn)能瓶頸電子產(chǎn)業(yè)影響大

據(jù)美聯(lián)社(AP)報導，近期波動看似無損智能型手機(Smartphone)蓬勃發(fā)展，然事實上經(jīng)濟不穩(wěn)定，市場氣氛低迷，芯片制造商走過2009年減產(chǎn)，2010年企圖急起直追，卻力有未逮，連帶拖累智能型手機(Smartphone)、PC、網(wǎng)絡通訊設備商。

2010-08-26

半導體智能手機芯片

R&S射頻診斷暗室為實驗室工作臺提供自由空間的測試環(huán)境

緊湊型的射頻診斷暗室R＆S DST200，讓移動電話等無線設備的研發(fā)人員能在工作臺上實現(xiàn)射頻輻射測量。此臺式暗室模擬能近似自由空間的測試條件，并配有專為此暗室設計的700 MHz到6 GHz的寬帶天線。用戶可以測量自我干擾（減敏）或輻射發(fā)射，執(zhí)行共存測試以及在研發(fā)過程中驗證天線的輻射方向圖。因此，...

2010-08-26

R&S DST200 射頻輻射測試

IEK:Q3半導體成長減弱代工封測仍將供不應求

據(jù)工研院IEK ITIS計劃針對半導體產(chǎn)業(yè)下半年的產(chǎn)業(yè)展望評估，在2009年下半年時，全球半導體產(chǎn)業(yè)受到各國政府經(jīng)濟振興方案的影響，使得全球半導體銷售較2009 年上半年呈現(xiàn)大幅度成長，而至2010年上半年時，全球景氣復蘇腳步優(yōu)于預期，再加上產(chǎn)能不足，也使今年上半年的銷售成績亮眼，然也因基期高，故...

2010-08-26

半導體 IC IEK 晶圓代工封測產(chǎn)能

電子書：一個個爛尾樓

電子書產(chǎn)業(yè)前途無限，這似乎是出版業(yè)的共識，然而，對于國內(nèi)電子書產(chǎn)業(yè)來說，還有很多問題亟待解決，比如版權問題、市場準入問題等等，目前還是一片亂局的國內(nèi)電子書市場，倘若無法擺脫制約電子書良性發(fā)展的桎梏，形成有力的競爭力，那么當國外企業(yè)進入時，可能會面對無法還手的境地，眾多投資巨大...

2010-08-26

電子書版權閱讀器

熱風整平技術

在PCB組件中，現(xiàn)在仍有超過60％的組件大量采用熱風整平(HAL)工藝技術，但人們大多數(shù)的研究工作還是針對ENIG、OSP、浸銀和浸錫等。無鉛化熱風整平PCB組件往往會被忽視。那么熱風整平技術能否勝任無鉛化應用的要求呢?文章試圖予以簡單介紹。

2010-08-26

熱風整平無鉛化表面貼裝技術電子組裝

集成芯片的可測性設計技術

本文主要介紹了可測性設計的重要性及目前所采用的一些設計方法，包括：掃描設計(scanDesign)、邊界掃描設計(BoundaryScanDesign)和內(nèi)建自測試設計(BIST)。這些設計方法各有其優(yōu)缺點，在實際設計時常常根據(jù)測試對象的不同，選擇不同的可測性設計方法，以利用其優(yōu)點，彌補其不足。

2010-08-26

掃描設計邊界掃描集成芯片可測性

NEPCON華南展8月末深圳開幕
六十余家頂尖電子企業(yè)將組團參觀

六十余家頂尖電子企業(yè)將組團參觀

2010-08-25

六十余家頂尖電子企業(yè)將組團參觀

2010中國（成都）電子展展望

作為中國最大的電子展會，中國電子展（CEF）素來被專業(yè)人士作為接觸最新產(chǎn)品、技術和尋求配套元器件及生產(chǎn)、測試設備的重要舞臺，同時也是觀察產(chǎn)業(yè)發(fā)展風向標的重要活動。而作為CEF系列展之一的CEF成都展，細心的人士也會發(fā)現(xiàn)有很多不同于CEF深圳展和CEF上海展的特別之處。

2010-08-25

電子展成都研討會 CD2010