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技術(shù)文章

EMC靜電放電測試與預防

本文先引用EMC標準IEC61000-4-2中靜電放電測試標準中的測試要求，測試原理，測試方法，再介紹常見的產(chǎn)品標準中對電子產(chǎn)品的靜電放電要求主要講的是靜電放電對電子產(chǎn)品的影響，以及一些基本的靜電放電抗擾度的預防措施...

2010-11-22

電磁兼容靜電放電抗擾性被測樣品

IR推出25V及30V PQFN功率MOSFET系列適用于工業(yè)負載點應(yīng)用

全球功率半導體和管理方案領(lǐng)導廠商 – 國際整流器公司 (International Rectifier，簡稱IR) 推出一系列25 V及30 V器件，采用了IR最新的HEXFET MOSFET硅器件和新款高性能PQFN 3 x 3封裝，為電信、網(wǎng)絡(luò)通信和高端臺式機及筆記本電腦應(yīng)用的DC-DC轉(zhuǎn)換器提供了高密度、可靠和高效率的解決方案。

2010-11-22

IR MOSFET 25V及30V PQFN 工業(yè)負載點

TDK高交會電子展全方位展示最新技術(shù)

11月16日，第十二屆高交會電子展在深圳會展中心開幕。一如以往，日本公司再次作為主力吸引了眾多參觀者的眼球，其中TDK在本次展會中全面展示了其在汽車、新能源、材料和顯示等方面最新的技術(shù)和產(chǎn)品。

2010-11-22

TDK 高交會汽車新能源材料顯示

HARTING提供兩套方案配套用于解決工業(yè)布線數(shù)據(jù)網(wǎng)絡(luò)

HARTING為工業(yè)布線數(shù)據(jù)網(wǎng)絡(luò)提供了兩套全面解決方案配套。剖面布線是以PROFINET在內(nèi)的標準化工業(yè)和自動化協(xié)議的基礎(chǔ)上的。HARTING的 PROFINET布線協(xié)議包括A, B, C型 PROFINET 布線，連接器，如RJ45和 M12與面板饋通和混合式接口等附件，可同時提供設(shè)備數(shù)據(jù)和電壓接接。

2010-11-22

HARTING PROFINET 剖面布線結(jié)構(gòu)布線

電力線通信技術(shù)的電磁兼容問題和測量方法

介紹了英國、德國、美國等國家PLC技術(shù)的概況及相關(guān)法規(guī)，分析了PLC的輻射干擾問題，并提出了實用的PLC傳導騷擾測量方法。

2010-11-22

電力線通信電磁兼容傳導騷擾測量方 PLC

手機應(yīng)用起飛　MEMS組件封裝高度降至1mm

微機電系統(tǒng)(MEMS)慣性組件應(yīng)用已起飛，目前尤以手機中的應(yīng)用最被全球業(yè)者所看好，故業(yè)者將加速度計(Accelerometer)以及陀螺儀(Gyroscope)等產(chǎn)品也向嵌入手機中為目標，封裝高度均可降至1mm以下。目前包含Kionix、Freescale、Bosch等業(yè)者均已推出3×3mm，且高度為0.9mm的加速度計產(chǎn)品，以符合下游業(yè)者...

2010-11-22

MEMS組件加速度計陀螺儀車用電子